日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀 FT,MAXXI和X-Strata系列上海鑄金分析儀器有限公司

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產品詳情

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產品名稱：日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀
產品型號：FT,MAXXI和X-Strata系列
產品廠商：日立(Hitachi)

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簡單介紹：

上海鑄金分析儀器有限公司供應多種型號的日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀?；赬熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品。日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。

詳情介紹：

日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列

日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀簡介：

微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品。

日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀應用：

■微焦斑 XRF 光譜儀應用于 PCB、半導體和電子行業

▲PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營，*****并避免昂貴的返工。

▲電力和電子組件的電鍍

零件必須在規格范圍內被電鍍，以達到預期的電力、機械及環境性能。開槽的X-Strata和MAXXI系列產品，可以測量小的試片或連續帶狀樣品，從而達到引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

▲IC 載板

半導體器件越來越小巧而復雜，需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析，及重復性好的數據。

▲服務電子制造過程（EMS、ECS）

結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點，實現從進廠檢查到生產線流程控制，再到*終質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和*終產品，**每個階段的質量。

▲光伏產品

對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助**這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而*****率。

▲受限材料和高可靠性篩查

與復雜的全球供應鏈合作，驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術，根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要求，**高可靠性涂鍍層被應用于航空和**領域。

	X-Strata920 正比計數器	X-Strata920 高分辨率 SDD	FT110A 正比計數器	MAXXI 6 高分辨率 SDD	FT150高分辨率 SDD毛細管聚焦光學系統
ENIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
ENEPIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)	無	★★☆	無	★★★	★★★
非電鍍鎳厚度	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
浸鍍銀	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
浸鍍錫	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
HASL	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
無鉛焊料（如 SAC)	★☆☆	★★☆	★☆☆	★★★	★★★
CIGS	無	★★☆	無	★★★	★★★
CdTe	無	★★☆	無	★★★	★★★
納米級薄膜分析	無	★★☆	無	★★★	★★★
多層分析	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
IEC 62321 RoHS 篩選	無	無	無	★★★	無
檢測特征 < 50 μm	無	無	無	無	★★★
模式識別軟件	無	無	★★★	無	★★★

■微焦斑XRF光譜儀應用于金屬表面處理

▲耐腐蝕性

檢驗所用涂層的厚度和化學性質，以**產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

▲耐磨性

通過**磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度，預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

▲裝飾性表面

當目標是實現無瑕表面時，整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。

▲耐高溫

在*端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。**符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。

	X-Strata920正比計數器	X-Strata920高分辨率SDD	FT110A正比計數器	MAXXI 6高分辨率SDD	FT150 高分辨率SDD
Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al	★★☆ (僅厚度)	★★☆ (厚度和成分)	★★☆ (僅厚度)	★★★ (厚度和成分)	★★★ (厚度和成分)
Ag / Cu Sn / Cu	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
Cr / Ni / Cu / ABS	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
Au / Pd / Ni /CuZn	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
納米級薄膜分析	無	★★☆	無	★★★	★★★
多層分析	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
IEC 62321 RoHS 篩選	無	無	無	★★★	無
DIM可變焦測試系統	無	無	★★★	無	無
模式識別軟件	無	無	★★★	無	無

日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀產品型號：

1、X-Strata920

→正比計數器或高分辨率 SDD

→元素范圍：鈦 - 鈾，或鋁 - 鈾（SDD）

→樣品艙設計：開槽式

→XY 軸樣品臺選擇：固定臺、加深臺、自動臺

→*大樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米

→*大數量準直器：6

→濾光片：1

→*小的準直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

→SmartLink 軟件

2、FT110A

¨正比計數器系統

¨元素范圍：鈦 - 鈾

¨樣品艙設計：開閉式或開槽式

¨XY 軸樣品臺選擇：開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺

¨*大樣品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

¨*大數量準直器：4

¨濾光片：1

¨*小的準直器：0.05 毫米

¨X-ray Station 軟件

3、MAXXI 6

?高分辨率 SDD

?元素范圍：鋁 - 鈾

?樣品艙設計：開槽式

?XY 軸樣品臺選擇：固定臺、自動臺

?*大樣品尺寸：500 x 450 x 170毫米

?*大數量的準直器：8

?濾光片：5

?*小的準直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

?SmartLink 軟件

4、FT150

?高分辨率 SDD

?元素范圍：鋁 - 鈾

?樣品艙設計：開閉式

?XY 軸樣品臺選擇：自動臺、晶片樣品臺

?*大樣品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

?濾光片：1 或 3

?毛細聚焦管 < 20 μm

?XRF控制軟件

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